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相信很多小伙伴,做论文数据时,都会测试一个样品系列的XRD数据。因此,在这里,我们直接为大家介绍“进阶版”的作图方法:同时画出同一系列多个样品的XRD
X光繞射分析(X-ray diffraction analysis, XRD) 是透過X光與晶體的繞射產生圖譜,並從圖譜資料庫比對,即可推論出材料晶體的排列結構、晶體排列的方式和奈米晶粒大小,
布拉格实验装置(图4)是现代X射线衍射仪(图5)的原型。如图4所示,XRD衍射仪的核心部件是X光源发生器和X射线检测器。当入射X射线照射到样品
XRD多以定性物相分析为主,但也可以进行定量分析。通过待测样品的X 射线衍射谱图与标准物质的X 射线衍射谱图进行对比,可以定性分析样品的物相组成
X射线衍射(XRD)图谱中的衍射峰提供了有关样品晶体结构和晶体学信息的重要数据。在分析XRD图谱时,通常会关注衍射峰的峰高、峰宽和峰面积,它们分别表示以下内容:峰
X 光繞射(XRD) 是一種多功能的非破壞性分析技術,可用於分析物理性質,如粉末、固體與液體樣品的相組成、晶體結構及方向。 許多材料都是由微小晶粒所構成。這些晶體的化學